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E-mail：sales@berling.com.cn
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IRD LEXSECO磁芯损耗测试仪
IRD LEXSECO磁芯损耗测试仪
该LEXSECO ®酷睿损耗测试仪利用高分辨率通量提供高准确度，波形无关的读数，被检查电流和功率测量的核心设备。
核心损耗测试仪包括具有固态控制的可变电抗变压器（VRT），数字计量包，计算机系统和带快速连接配件的测试电缆。提供***保险丝，过温保护，联锁，浪涌抑制器和断路器，以向硬件和操作员提供较大的保护。
磁芯损耗测试仪为某些型号提供0至2,000安培的可调输出电流，对其他型号提供高达4,000安培的可调输出电流。通过LEXSECO使用的VRT ®提供了方便的控制和自我限制的电流，这两者提供比行业中使用动力其它来源的巨大优势。您LEXSECO ®酷睿损耗测试仪的设计与LEXSECO使用® MP 7 TM软件。这种高度精细的软件和硬件组合将确保准确的结果。
IRD LEXSECO磁芯损耗测试仪
标准功能：
所有型号
MP软件和计量系统
助焊剂测量电缆
电缆支架
锁钢盖
型号2125及以上
交流转子和直流电枢测试包。
可选功能：
模型1081，2025，2040，2060
扩展输入电压范围，220-600V
型号2125,2200,3000
扩展输入电压范围480-600V
型号2060及以下
交流转子和直流电枢测试包。
该LEXSECO ®酷睿损耗测试仪利用高分辨率通量提供高准确度，波形无关的读数，被检查电流和功率测量的核心设备。
核心损耗测试仪包括具有固态控制的可变电抗变压器（VRT），数字计量包，计算机系统和带快速连接配件的测试电缆。提供***保险丝，过温保护，联锁，浪涌抑制器和断路器，以向硬件和操作员提供较大的保护。
磁芯损耗测试仪为某些型号提供0至2,000安培的可调输出电流，对其他型号提供高达4,000安培的可调输出电流。通过LEXSECO使用的VRT ®提供了方便的控制和自我限制的电流，这两者提供比行业中使用动力其它来源的巨大优势。您LEXSECO ®酷睿损耗测试仪的设计与LEXSECO使用® MP 7 TM软件。这种高度精细的软件和硬件组合将确保准确的结果。
IRD LEXSECO磁芯损耗测试仪
标准功能：
所有型号
MP软件和计量系统
助焊剂测量电缆
电缆支架
锁钢盖
型号2125及以上
交流转子和直流电枢测试包。
可选功能：
模型1081，2025，2040，2060
扩展输入电压范围，220-600V
型号2125,2200,3000
扩展输入电压范围480-600V
型号2060及以下
交流转子和直流电枢测试包。
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