着光通讯行业的飞速发展,特别是通讯行业手机、平板等对成像质量要求的不断提高,必须对手机面板摄像孔的光学玻璃的透射波前进行检测和分析。
光学玻璃的透射波前是指一个标准的波形(平面波、球面波等)被透射或反射后的波形,它主要用于光学成像的像质评价。随着透射光学系统(如手机平板等摄像系统等)的成像质量要求越来越高,迫切需要高精度的光学玻璃透射波前的检测手段。高精度的检测方法主要是用干涉仪检测波前畸变。
其工作原理是将待测手机平板放于干涉仪的参考平面镜和标准反射镜中间,从标准参考镜反射的光和标准反射镜的光相干涉。干涉条纹则反映了手机面板摄像孔透射波前的好坏。
硬件部分
产品型号 |
SDI-635-25PV |
产品名称 |
激光干涉仪 |
测试结构 |
斐索型立式结构 |
测试口径 |
有效口径Ф10mm |
测试光源 |
半导体激光光源(波长635nm) |
对准视场 |
±0.5度 |
标准镜面形精度 |
λ/20 |
标准配件 |
1、干涉仪主机一台 |
设备重量 |
约16KG |
电源 |
AC220V50HZ |
干涉仪软件部分
软件名称 |
移相算法 |
分析项目 |
透过波前PV值、RMS值、干涉条纹数 |
PV值测试重复性 |
±0.039λ |
条纹数测试精度 |
±0.5条 |
测试时间 |
1.5秒 |
测试数据 |
可存EXECL |
检测指标的简单说明:
PV值在数学上的定义是峰谷值( Peak to Valley),即*大值和*小值的差值。单位是λ(波长)。对应到干涉仪透射检测上,就是被检元件的厚度差。
RMS值在数学上的定义是均方根值(root-mean-square),单位是λ(波长),这是一个统计值,RMS的大小反映了这些数据值的离散程度。对应到干涉仪透射检测上,RMS值越小表明被检元件的厚度平滑性越好,高低起伏越少。
条纹根数是肉眼可见的被检元件厚度差的直观表现,与PV值成线性关系。条纹根数越少表明被检元件的厚度差越小。
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